Übersicht

Inspektions - Systeme

Halb- und vollautomatische, computergestützte Mikroskop - Systeme

6 Produkte in Inspektions - Systeme

Microscope Control Software

für Klassifizierung, Auswertung, Entwicklung

Art.Nr.:

MCS

Art.Nr.:

Waferdefect

Zeiss Inspektions und Review Station für die fortgeschrittene Wafer Produktion,...

Inspektionsmikroskop für Halbleiter, Preis ab

Art.Nr.:

Axiospect200

Art.Nr.:

ZeissAx

inkl. MwSt (19%)

definierte, softwareunterstützte, Mikroskopinspektion auf Wafern und Frames...

ProMicron ORI: motorisiertes Leica Hochleistungsstereomikroskop für Maskenreparatur...

Art.Nr.:

MCS-OWI

Art.Nr.:

MCS-RI

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