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Schichtdickenmess - Systeme

Dünnschichtmesstechnik, Spektral-Reflektometer (Weißlicht-Reflektometrie), Thin Film Metrology
3 Produkte in Schichtdickenmess - Systeme 
       
Dünnfilm Messtechnik spektrale Reflektometrie NanoCalc-2000
Mit einem C-Mount Adapter ist es möglich die Standard Fasersonde an nahezu...
MCS-TFM Thinfilm Measurement - automatisches Schichtdicken-Messsystem mit Mikroskop und optionalem Waferloader
Vollautomatische Dünnfilm-Messung. Leistungsfähiges System für Schichtdicken...
Art.Nr.:NanoCalc-MS
Art.Nr.:MCS-TFM
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Leitz MPV SP
Leitz Schichtdickenmesssystem, für transparente Schichten Ersatzteile Reparatur...
Art.Nr.:Leitz_MPV-2
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