|  | Infrared Microscopy for e.g. adjustment or front/backside alignment on Si-WafersWe customize IR microscopes depending on your requirements. Please ask us.Wir stellen IR-Mikroskope nach Kundenanforderungen zusammen. Bitte fragen Sie an.
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Description: The view switches back and forth between front- and backside of the specimen. The frontside was illuminated with visible incident light (without IR filter).
The brightly illustrated parts appear dark on the infrared illuminated backside. |
Beschreibung:
IR-Mikroskope sind mit speziellen IR-Objektiven ausgerüstet. Da das infrarote Spektrum für das menschliche Auge nicht sichtbar ist, gibt es keinen "normalen" Einblick. Deshalb kommt hier eine IR-empfindliche Kamera zum Einsatz. Als Beleuchtung dient ein Durchlicht mit hohem IR-Anteil.
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| Range of applications:
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Einsatzgebiete:
- Rückseiteninspektion
- zerstörungsfreie Inspektion innen liegender Bauteile
- Top-Bottom-Alignment (z.B. Wafer)
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Example of Application:
The view switches back and forth between front- and backside of the specimen. The frontside was illuminated with visible incident light (without IR filter).
The brightly illustrated parts appear dark on the infrared illuminated backside. |
Anwendungsbeispiel:
Die Ansicht wechselt zwischen Vorder- und Rückseite des Bauteils. Die Vorderseite wurde mit sichtbarem Auflicht beleuchtet (ohne IR-Filter). Die Teile, die hier hell zu sehen sind, erscheinen auf der mit Infrarot-Durchlicht beleuchteten Rückseite dunkel. |
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